日本densoku便攜式薄膜測厚儀QNIx系列

更新日期：2024-05-11

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

日本densoku便攜式薄膜測厚儀QNIx系列
一種便攜式薄膜厚度計(jì)，可以通過麻煩的薄膜厚度測量來更輕松地提高生產(chǎn)效率。

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產(chǎn)品介紹

日本densoku便攜式薄膜測厚儀QNIx系列

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計(jì)。
無線測量無需電纜。除了有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€人計(jì)算機(jī)外，它還有助于防止測量過程中跌落事故的發(fā)生。

無需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測量

通過在出廠時輸入16Point校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來交付。這樣就無需進(jìn)行麻煩的薄膜校準(zhǔn)工作，并且可以進(jìn)行精確的薄膜厚度測量。

膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

在常規(guī)的測量儀器中，通過用電纜連接儀器主體和個人計(jì)算機(jī)來傳輸測量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用，只需將其插入USB端口即可進(jìn)行傳輸。可以更快，更輕松地查看測量數(shù)據(jù)。

超輕量無線測量儀

探頭測得的數(shù)據(jù)被無線傳輸?shù)街鳈C(jī)。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣，它也降低了被電纜卡住，阻礙和導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險。此外，該探頭重30克，重量超輕，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。

難以斷裂且在被測物體上*跡的探頭

QNIx系列探頭由增強(qiáng)塑料包圍，可將耐用性提高30％。即使發(fā)生故障，也很容易拆卸和維修，從而縮短了維修時間。此外，還附有紅寶石筆尖，因此可以安全地執(zhí)行測量而不會損壞要測量的物體（樣品）。

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系統(tǒng)	方便的QNIx
可測量的電影	[F]鐵材料上的非磁性涂層 [N]非鐵材料上的非導(dǎo)電涂層 [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層			[FN]鐵/有色金屬材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性，非導(dǎo)電膜厚度
材料識別	黑色金屬和有色金屬的自動識別交換	黑色金屬和有色金屬的自動識別交換	用戶的轉(zhuǎn)換	黑色金屬和有色金屬的自動識別交換	鐵/有色，自動識別模式轉(zhuǎn)換
測量原理	[F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流
測量范圍	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0-3,000微米	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0-5,000微米	0-500微米
解析度	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0點(diǎn)校正用戶校準(zhǔn)：1 [M] 100件	0點(diǎn)校正	0點(diǎn)校正	沒有校準(zhǔn)功能	沒有校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確性	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％）	±（2微米+ 3％）	±（1微米+ 3％）	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多）	±（10微米+ 5％）
測量速度	1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）