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手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500

手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500

更新日期：2024-05-14

訪問量：509

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：
手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500
FISCHERSCOPE ® X 射線 XAN ® 500
手持式熒光 X 射線薄膜厚度測量和材料分析儀。它可以在現(xiàn)場進(jìn)行快速、無損檢測，而無需移動被測物體。

手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500

手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500

日本進(jìn)口fischer手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500

特征

  • 便攜式熒光X射線膜厚測量及材料分析測量裝置
  • 內(nèi)置硅漂移檢測器，精度高，檢測靈敏度高
  • 無需移動或切割待測物體即可在現(xiàn)場進(jìn)行快速、無損的檢測

主要規(guī)格

測量元件范圍小號 (16) - 小號 (92)
X射線探測器硅漂移探測器 (SDD)
X射線管目標(biāo)
初級過濾器1種固定
準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸1型固定/Φ2mm
測量儀本體尺寸210 x 75 x 230mm（寬 x 深 x 高）
測量箱尺寸380 x 220 x 385mm（寬 x 深 x 高）
測量室尺寸150 x 330 毫米
電池工作時(shí)間約6小時(shí)

主要應(yīng)用

  • 機(jī)械零件、外殼等大型零件的膜厚測量
  • 貴金屬手持測量
  • 攜帶到電鍍廠現(xiàn)場測量

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