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X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

更新日期：2024-05-14

訪問量：678

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：
X射線熒光測量儀 XDV ® -μ
FISCHERSCOPE ® X 射線 XDV ® -μ
這是配備多毛細(xì)管光學(xué)元件的熒光 X 射線薄膜厚度測量儀。由于 X 射線聚焦在微小部件上，因此 X 射線強(qiáng)度強(qiáng)，可以進(jìn)行精確測量。

X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

日本進(jìn)口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -μ

特征

  • X 射線聚焦在微小部件上，X 射線強(qiáng)度強(qiáng)，可實(shí)現(xiàn)精確測量。
  • 薄膜厚度測量（示例） 0.1 µm 以下的 Au 和 Pd
  • 使用可編程 XY 平臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)測量

主要規(guī)格

它是一種使用多毛細(xì)管透鏡的熒光 X 射線測量設(shè)備。對(duì)于非常小的零件和結(jié)構(gòu)零件，可以進(jìn)行無損膜厚測量和材料分析。

模型XDV-μ
測量元件范圍鋁 (13) -U (92)
X射線探測器硅漂移探測器 (SDD)
X射線管微調(diào)焦管
初級(jí)過濾器4種
X 射線光學(xué)元件 / 尺寸多毛細(xì)管透鏡 Φ20µm（選項(xiàng) Φ10µm）
車身尺寸660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高）
能量消耗高達(dá) 120W

主要應(yīng)用

  • 測量非常小的扁平部件和結(jié)構(gòu)部件，例如印刷電路板、接觸針、引線框架等。
  • 電子元件和半導(dǎo)體產(chǎn)品中使用的功能鍍層的測量

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