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X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB

X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB

更新日期：2024-05-14

訪問量：515

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：
X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ® -μ PCB
配備Polycapillary Optics的高性能熒光X射線膜厚測量儀，專為大型印刷電路板和零件微結(jié)構(gòu)部件的材料分析和膜厚測量而設(shè)計。

X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB

X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB

日本進(jìn)口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB

特征

  • 用于測量大型印刷電路板微結(jié)構(gòu)部件的模型
  • 通過采用創(chuàng)新的多毛細(xì)管透鏡，即使在非常小的測量光斑中也可以獲得較大的激發(fā)強(qiáng)度。

主要規(guī)格

它是一種配備多毛細(xì)管透鏡的高性能熒光X射線測量設(shè)備，專為大型印刷電路板和零件微結(jié)構(gòu)部件的材料分析和膜厚測量而設(shè)計。

模型XDV-μPCB
測量元件范圍鋁 (13) -U (92)
X射線探測器硅漂移探測器 (SDD)
X射線管微調(diào)焦管
初級過濾器4種
X 射線光學(xué)元件 / 尺寸多毛細(xì)管透鏡 Φ20µm（選項 Φ10µm）
車身尺寸670 x 885 x 660mm（寬x深x高）
有效樣品放置區(qū)600 x 600mm（寬 x 深）
能量消耗高達(dá) 120W

主要應(yīng)用

  • 大型印刷電路板的測量
  • 薄膜厚度測量
  • 大型印刷電路板的測量

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